Фазовые превращения в гейзенберговских магнетиках, индуцированные одноосной анизотропией: моделирование методами Ванга–Ландау и машинного обучения
- Авторы: Друзьев Д.А1, Чубарова А.А2, Прудников П.В2
- 
							Учреждения: 
							- Омский государственный университет им. Ф. М. Достоевского
- Центр новых химических технологий ИК СО РАН, Институт катализа СО РАН
 
- Выпуск: Том 122, № 3-4 (2025)
- Страницы: 156-161
- Раздел: Статьи
- URL: https://cardiosomatics.ru/0370-274X/article/view/693458
- DOI: https://doi.org/10.31857/S0370274X25080067
- EDN: https://elibrary.ru/TSALDV
- ID: 693458
Цитировать
Полный текст
 Открытый доступ
		                                Открытый доступ Доступ предоставлен
						Доступ предоставлен Доступ платный или только для подписчиков
		                                							Доступ платный или только для подписчиков
		                                					Аннотация
Впервые представлено моделирование критических свойств трехмерной анизотропной модели Гейзенберга во внешнем поле с использованием метода Ванга–Ландау. Был применен комбинированный подход, объединяющий алгоритм Ванга–Ландау с методами машинного обучения, кластеризацией DBSCAN и PCA анализом. Выявлено пороговое значение параметра Δc, разделяющее области определяющего влияния одноосной анизотропии.
			                Об авторах
Д. А Друзьев
Омский государственный университет им. Ф. М. ДостоевскогоОмск, Россия
А. А Чубарова
Центр новых химических технологий ИК СО РАН, Институт катализа СО РАН
														Email: alina_chubarova@ihcp.ru
				                					                																			                												                								Омск, Россия						
П. В Прудников
Центр новых химических технологий ИК СО РАН, Институт катализа СО РАНОмск, Россия
Список литературы
- K. Shiina, H. Mori, Y. Okabe, and H. K. Lee, Sci. Rep. 10, 2177 (2020).
- I. A. Iakovlev, O. M. Sotnikov, and V. V. Mazurenko, Phys. Rev. B 98, 174411 (2018).
- A. A. Chubarova, M. V. Mamonova, and P. V. Prudnikov, J. Sib. Fed. Univ. Math. Phys. 17, 238 (2024).
- P. V. Prudnikov, V. V. Prudnikov, M. A. Menshikova, and N. I. Piskunova, J. Magn. Magn. Mater. 387, 77 (2015).
- F. Wang and D. P. Landau, Phys. Rev. E 64, 056101 (2001).
- T. Aleksandrov, C. Desgranges, and J. Delhommelle, Molecular Simulation 38, 1265 (2012).
- W. Janke and W. Paul, Soft Matter 12, 642 (2015).
- A. D. Swetnam and M. P. Allen, J. Comput. Chem. 32, 816 (2011).
- N. Rathore, Q. Yan, and J. J. de Pablo, J. Chem. Phys. 120, 5781 (2004).
- J. Xu and H. Ma, Phys. Rev. E 75, 041115 (2007).
- C. J. Silva, A. A. Caparica, and J. A. Plascak, Phys. Rev. E 73, 036702 (2006).
- D. P. Landau, F. Wang, and S. Tsai, Comput. Phys. Commun. 179, 8 (2008).
- L. Yu. Barash, M. A. Fadeeva, and L. N. Shchur, Phys. Rev. E 96, 043307 (2017).
- C. Zhou and R. N. Bhatt, Phys. Rev. E 72, 025701 (2005).
- R. E. Belardinelli and V. D. Pereyra, Phys. Rev. E 75, 046701 (2007).
- L. Zhan, Comput. Phys. Commun. 179, 339 (2008).
- J. Yin and D. P. Landau, Comput. Phys. Commun. 183, 1568 (2012).
- S. Sinha and S. K. Roy, Phys. Lett. A 373, 308 (2009).
- C. Zhou, T. C. Schulthess, S. Torbrugge, and D. P. Landau, Phys. Rev. Lett. 96, 120201 (2006).
- M. Kalyan, R. Bharath, V. Sastry, and K. Murthy, J. Stat. Phys. 163, 197 (2016).
- V. I. Egorov, O. G. Maksimova, and A. R. Baidganov, J. Phys.: Conf. Ser. 1141, 012068 (2018).
- S. Schnabel and W. Janke, arXiv:2204.14004 (2022).
- G. Brown and T. C. Schulthess, J. Appl. Phys. 97, 10E303 (2005).
- I. T. Jolliffe and J. Cadima, Philos. Trans. A Math. Phys. Eng. Sci. 374, 20150202 (2016).
- P. B. Nagpal and P. A. Mann, Int. J. Comput. Appl. 27, 44 (2011).
- D. P. Kingma and J. Ba, arXiv:1412.6980 (2017).
- A. Fernandez-Pacheco, R. Streubel, O. Fruchart, R. Hertel, P. Fischer, and R. P. Cowburn, Nat. Commun. 8, 15756 (2017).
- I. Affleck and G. F. Wellman, Phys. Rev. B 46, 8934 (1992).
- A. Singhania, M. Kadosawa, Y. Ohta, S. Kumar, and S. Nishimoto, Phys. Rev. B 104, 224407 (2021).
- M. H. Kryder, E. C. Gage, T. W. McDaniel, W. A. Challener, R. E. Rottmayer, and G. Ju, IEEE Proc. 96, 1810 (2008).
- D. Apalkov, B. Dieny, and J. M. Slaughter, IEEE Proc. 104, 1796 (2016).
Дополнительные файлы
 
				
			 
						 
						 
						 
					 
						 
									

 
  
  
  Отправить статью по E-mail
			Отправить статью по E-mail 

